测量平台测量平板的平面度如何测量，厂家推荐
用光学仪器测量大型测量平台平台测量平板平面度的测量方法，将平面扫描仪架在被测平台上，目标I、目标II、目标III围绕测微准直望远镜放置，且平行于支脚AC和BC的连线，把光学头转向目标I，并把望远镜调焦到目标I上，调整支脚B的调整螺钉，使望远镜十字线初步对准目标I上条纹。再转向目标III调整扫描仪的测微鼓轮，使目标III接近望远镜十字线。光学头转向目标II，调整支脚A的调整螺钉，使望远镜十字线与目标II对中，经反复调整支脚高度和测微鼓轮，使望远镜十字线与三目标_对中，建立了基准面，将目标IV放在要测量位置，用平面扫描仪的光学测微器读出该位置对基准面的偏差。适合大型检验平台的平面度测量，通用性强、速度快、测量精度高。
1、测量平台平面度测量方法，其特征包括下列步骤： A、将平面扫描仪架设在被测量的平台（6）上，目标I、目标II、目标 III围绕测微准直望远镜（2）放置，而且目标I和目标III平行于支脚AC的 连线，目标II平行于支脚BC的连线，将光学头（5）转向目标I，并把测微 准直望远镜（2）调焦到目标I上，然后通过调整支脚B的调整螺钉，使测 微准直望远镜（2）十字线初步地对准目标I上目标带（9）的条纹图案； B、将光学头（5）转向目标III，并检查目标III是否相当接近于测微准 直望远镜（2）的十字线，如果相差较远，则转动平面扫描仪的测微鼓轮（8）， 使目标III接近于测微准直望远镜（2）的十字线，然后再把光学头（5）转向 目标I，重复进行对目标I的A步骤所述调整； C、将光学头（5）转向目标II，把测微准直望远镜（2）调焦到目标II 上，通过调整支脚A的调整螺钉，使测微准直望远镜（2）十字线与目标II 对中； D、转动光学头（5），重新瞄准目标I，然后精调支脚B的调整螺钉， 使所选定宽度的目标带（9）与测微准直望远镜（2）十字线对中； E、再把光学头（5）转向目标III，把测微准直望远镜（2）调焦到目标 III上，然后转动平面扫描仪的测微鼓轮（8），使所选定宽度的目标带（9） 与测微准直望远镜（2）的十字线对中，得出光学测微器（4）这次变化量， 然后把测微鼓轮（8）又调回它所转过刻度值的一半，_后重新调整支脚B 的调整螺钉，使目标III_地与测微准直望远镜的十字线对中； F、反复瞄准目标I和III，调整平面扫描仪的测微转轮（8）和支脚B的 调整螺钉，直到二目标都与测微准直望远镜（2）的十字线_对中为止。 然后锁紧B支脚的调整螺钉； G、瞄准并调焦于目标II上，通过调整支脚A的调整螺钉使测微准直望 远镜（2）的十字线与目标II_对中，并锁紧支脚A的调整螺钉； H、重新瞄准观察三目标，检查三者是否均与测微准直望远镜（2）的十 字线对中，如果均对中，则完成了基准面的建立。 I、当基准面建立后，_可进行平台平面度的测量了，此时把目标IV放在 要测量的位置上，然后用平面扫描仪的光学测微器（4）读出该位置对基准 面的偏差； J、按步骤I在需要测量的位置上逐点进行测量，这样平台（6）的平面 度_可以被测量出，所测对基准面的偏差数据标注在测点分布图上，由分布 图上找出_偏差值和_小偏差值，经计算得出平面度，即： Δ＝_偏差值-_小偏差值。
测量平台测量平板平面度误差的测量：
平面度误差的测量方法很多，常用的有如下所列的方法：
①光隙法：将被测直线和测量基线间形成的光隙，与标准光隙比较，测量不同方向的若干个截面上的直线度误差，取其中_值，作为平面度误差近似值的方法。该方法适用于磨削或研磨加工的小平面的测量平板平面度误差测量。
②指示器法：将被测零件支撑在测量平板上，铸铁平板工作面为测量基准，按_的方式布点，如图3所示，用指示器对被测面上各点进行测量并记录所测数据，然后，按_的方法评定其误差值。该方法适用于中、小平面的
铸铁平板平面度误差测量。
③光轴法：以几何光轴建立测量基面，测出被测面相对测量基面的偏离量，进而评定测量平台平面度误差值的方法，该方法适用于一般精度大平面的测量平台平面度误差测量。
④干涉法：利用光波干涉原理，根据干涉条纹形状、条数，来确定平面度误差值的方法，该方法适用于精研表面的研磨平板平面度误差测量。
⑤三坐标测量机：三坐标测量机是综合利用精密机械、微电子、光栅和激光干涉仪等_技术的测量仪器，其原理是在三个相互垂直的方向上，有导向机构、测长元件、数显装置，有一个能够放置工件的工作台，测头可以以手动或机动方式，轻快地移动到被测点上，由读数设备和数显装置，把被测点的坐标值显示出来的一种测量设备[4]。
除上面介绍的几种方法外，还有液面法、自准直仪法等，
测量平台测量平板生产厂家常采用光学合像水平仪测定
测量平板的平面度误差。
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